光纤测量
和质量控制解决方案
光纤生产需要高精度测量系统，以便在不断提高的拉丝速度下监控关键工艺参数。CERSA MCI 开发先进的光纤测量解决方案，帮助制造商确保产品质量、优化生产流程并实现可靠的在线质量控制。多年来，CERSA MCI 与光纤制造商紧密合作，开发满足现代光纤生产线需求的测量技术。如今，全球超过 650 座高速光纤拉丝塔均采用 CERSA MCI 测量系统。光纤测量的重要性：
现代光纤生产需要持续监控关键工艺参数，以确保产品质量并最大限度地提高生产效率。实时测量系统可帮助制造商在不断提高的拉丝速度下控制光纤直径、张力、气流缺陷和涂层质量。光纤生产过程中监控的关键参数
•： 裸光纤直径测量•气流缺陷检测•光纤张力监控•涂层质量检测•不对称性和同心度控制•实时工艺优化。全在线质量控制：
通过在拉丝塔内安装测量仪器，操作人员可以持续监控和调整关键生产参数。这些系统可为工艺优化和质量保证提供即时反馈。对于裸光纤，重要的测量指标包括包层直径、气流缺陷、张力和纺丝曲线。涂覆后，额外的测量系统有助于监测最终直径、几何缺陷（例如结块和颈缩）以及涂层缺陷（包括气泡、分层和杂质）。制造商选择 CERSA MCI 的理由
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已在超过 650 台光纤拉丝塔上安装的成熟解决方案•高速测量性能•实时质量控制和工艺优化•在要求严苛的生产线上可靠运行•兼容工业 4.0 的通信接口
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光纤测量：
数十年来，CERSA MCI 与世界领先的光纤制造商紧密合作，开发出满足现代光纤生产不断变化的需求的测量技术。这种紧密的合作关系使得测量精度、可靠性和生产性能得以持续提升。
如今，全球超过 650 座高速光纤拉丝塔 均采用 CERSA MCI 测量系统。我们的解决方案专为严苛的生产环境而设计，可提供可靠的实时测量，帮助制造商保持产品质量的稳定性，优化生产效率，并支持持续的工艺改进。
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监测光纤质量
光纤质量取决于对整个拉丝过程中多个工艺参数的持续监控。
通过在拉丝塔的关键位置安装专用测量系统，制造商可以获得即时反馈，从而快速调整工艺并保持稳定的生产条件。
在裸光纤生产过程中，CERSA MCI 解决方案可监控包层直径、气流缺陷、拉丝张力和纺丝曲线等关键参数。
涂覆后，其他系统可验证最终涂覆直径，检测结块和颈缩缺陷，识别涂层缺陷（包括气泡、分层和杂质），并监控涂层的不对称性和同心度。这些测量共同提供了全面的在线质量控制，同时支持不断提高的生产速度。
我们为光纤制造商提供的测量仪器
LISG：裸光纤激光干涉传感器
五合一测量仪！超快速检测。LISG
专为裸光纤测量和拉丝过程中的缺陷检测而设计。它利用光纤置于激光束中产生的干涉条纹图案进行测量。
主要特点：
- 实时、高精度直径测量
- 航空缺陷检测（预成型件中的气泡）
- 包覆层非圆度测量
- 旋压轮廓和频率测量
NCTM：非接触式张力测量
纯光学原理
NCTM 设计用于测量裸光纤生产过程中的拉拔力（张力）。 它采用基于双折射（光偏振）的纯光学原理。
拥有覆盖拉丝全过程的测量能力， 测量范围：0 - 400 克，不确定度：+/- 1 克
AIR：气线检测仪
100% 覆盖裸纤横截面
AIR 设计用于检测裸光纤中的气线（拉丝过程中拉伸的预制棒中的气泡）， 它通过分析激光束照射光纤时产生的干涉条纹来测量。
这种测量原理可提供低至 0.3 µm 的超细气线检测。 通过使用 3 个测量轴，AIR 是市场上唯一能够 100% 覆盖横截面来检测气线（无论生产中是否提供搓扭）的仪器，并且它的测量不受光纤位置和振动的影响。
CM5：5轴涂覆监测
一体化设计。 直径和鼓包及凹陷检测
CM5 设计用于测量涂覆光纤以及检查拉丝过程中的缺陷。
凭借覆盖 100% 表面的 5 个测量轴以及卓越的测量速度，CM5 成为对涂覆光纤进行全面检测的完备仪器：
- 测量涂覆光纤的外径
- 连续检测鼓包和凹陷缺陷
- 检测包层内部和表面的缺陷及杂质
- 检测涂层内的缺陷、气泡、开裂
- 测量涂层和包层的同心度。
ASYM：涂层纤维不对称性测量
ASYM 可实时测量光纤涂层不对称性，即使对于最新一代精细涂层光纤，也能确保最佳的同心度。它采用双轴激光干涉测量系统，分析光干涉图样，量化由涂层偏心引起的整体偏差。
主要特点：
- 超薄涂层的实时不对称性测量
- 精确控制涂层同心度
- 无论是否进行纤维纺丝，均可完全运行
- 增强工艺稳定性并预防缺陷
我们的光纤测量的软件解决方案
CIM在线测量软件（CIM PROD版本）
CIM软件是CERSA MCI为精细线//线缆/管材和光纤测量开发的全面生产质量管理工具。
CIM PROD版本的软件，可以设置仪器的参数，能够清晰的显示生产测量结果以及任何检测到的缺陷，能够生成实时参数并将所有测量值和事件记录在数据库中。
PROD Full 版本是为光纤在线生产测量而开发，
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光纤测量的
