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电线/电缆/管材
测量

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CERSA 开发了一系列采用多种光学技术的仪器,涵盖广泛的应用领域,并满足生产工厂对速度、精度、检测和表征细微缺陷的需求。这些测量结果可以显示、记录或分析。

我们的在线仪器能够监测电线或电缆直径的波动(拉丝和挤压),并检测缺陷(结块和缩颈),尤其适用于高速生产线。

我们的离线仪器可用于进货检验,并分析客户生产的样品。我们的量规以其极小的直径测量精度(低至 5µm)而闻名,并提供不同的几何形状和表面检测解决方案。

我们仪器的优势众多。光学测量是非接触式的,并且不受电线振动的影响。由于我们的量规内部没有移动部件,因此与竞争对手广泛使用的主流旋转镜技术相比,可靠性更高。

我们40 年的经验保证您将受益于市场上最好的测量仪器:精度高、速度快、重复性好、不受振动影响的量规。这些特点是我们市场领先地位的关键,使 CERSA-MCI 在竞争中脱颖而出

在线测量解决方案

离线测量解决方案

细线、
电缆和管材制造商提供测量解决方案

排队

DLN——一体化解决方案

超高速直径、非圆度、缺陷检测装置

DLN系列产品可对细线、电缆和管材进行超快速、高精度的实时测量。它能同时测量三个独立的直径,并以极高的分辨率检测几何缺陷。.

该系统每秒可进行 75 万次直径测量(每轴 25 万次),其 CMOS 传感器即使在振动情况下也能确保测量精度,这得益于其 1 微秒的曝光时间。该系统无移动部件运行,从而确保在工业环境中具有最高的可靠性。.

DLN 与光学和电子器件完全集成,无需外部计算单元,使其成为强大而高效的一体化解决方案。.

排队

表面缺陷测量

直径 15µm 至 2000µm

SQMF :表面缺陷检测器。

对细线、电缆和管材进行高分辨率实时表面缺陷检测,每圆周 128 像素,每秒 200,000 张图像。.

缺陷图像会显示在 CIM 上,供客户分析和表征。.

最小线性分辨率:18μm,表面覆盖率100%。.

离线

WIRE360——表面样品检测

直径 15 - 2000 微米

基于 SQMF 的强大功能,CERSA 开发了一种手动工作台,可以轻松地将样品紧紧固定(从 15µm 到 2mm),以便对样品表面进行 360° 的全面分析。

非常适合用于来料检验或样品分析。.

获取表面图像只需不到 1 分钟!

该专用软件提供了表征表面和检测潜在缺陷所需的所有工具。.

排队

直径测量 - 2 轴

直径 5 - 2000 微米

LDS双轴版本.

专为测量细丝直径而设计,精度高。其测量原理基于激光衍射。不受位置和振动的影响。.

所有部件均为静态,无活动部件。.

无需计算平均值。.

它可用于在线测量,以连续监测直径,计算 90° 时的 2 个直径值,精度很高。.

离线

直径和椭圆度测量

直径 5 - 2000 微米

LDS + 旋转附件 (WSR) + 标签打印机 + CIM 实验室.

适用于在实验室或进货检验中轻松测量细金属丝样品(低至 5µm)的全球解决方案。.

WSR 配件有助于测量 360° 的直径并计算椭圆度。.

配备标签打印机和 CIM Lab 软件后,它就成为一套完整的解决方案,可用于改进电线质量控制检测。.

离线

直径样品测量

直径 5 - 2000 微米

LDS + 脚踏板 + 标签打印机 + CIM 实验室.

用手握住样品,用脚踏板触发直径测量。.

简单且性价比高的解决方案,可在实验室或进货检验中轻松测量细金属丝样品(最大 2000µm)。.

配备标签打印机和 CIM Lab 软件后,它就成为一套完整的解决方案,可用于改进电线质量控制检测。.

排队

直径测量 - 1 轴

直径 5 - 2000 微米

LDS单轴版本.

专为测量细金属丝直径而设计,精度高。.

其测量原理基于激光衍射,不受位置和振动的影响。.

所有部件均为静态,无移动部件。无需平均值计算。可用于在线测量,实现连续直径监测,单个直径值精度高。.


用于测量电线、电缆和管材的软件解决方案

CIM在线测量软件(CIM PROD版本)

CERSA-MCI 自主研发了用于管理其仪器的 PC 软件。CIM 提供实时测量显示,并可根据客户产品特性自动设置仪器参数。它还能将所有测量数据和事件记录到数据库中。

两个不同的版本用于线缆测量:

PROD版本专为在线应用而开发,其公差调整和触发阈值是专为生产环境设计的功能。LAB

版本离线应用而开发,该版本允许用户通过自定义字段对样品进行分类、保存记录、生成报告,以及将数据导出为 .csv 文件。

进一步了解请点击


电线、电缆和管材测量类别相关

排队

DLN——一体化解决方案

超高速直径、非圆度、缺陷检测装置

DLN系列产品可对细线、电缆和管材进行超快速、高精度的实时测量。它能同时测量三个独立的直径,并以极高的分辨率检测几何缺陷。.

该系统每秒可进行 75 万次直径测量(每轴 25 万次),其 CMOS 传感器即使在振动情况下也能确保测量精度,这得益于其 1 微秒的曝光时间。该系统无移动部件运行,从而确保在工业环境中具有最高的可靠性。.

DLN 与光学和电子器件完全集成,无需外部计算单元,使其成为强大而高效的一体化解决方案。.

排队

表面缺陷测量

直径 15µm 至 2000µm

SQMF :表面缺陷检测器。

对细线、电缆和管材进行高分辨率实时表面缺陷检测,每圆周 128 像素,每秒 200,000 张图像。.

缺陷图像会显示在 CIM 上,供客户分析和表征。.

最小线性分辨率:18μm,表面覆盖率100%。.

排队

直径测量 - 2 轴

直径 5 - 2000 微米

LDS双轴版本.

专为测量细丝直径而设计,精度高。其测量原理基于激光衍射。不受位置和振动的影响。.

所有部件均为静态,无活动部件。.

无需计算平均值。.

它可用于在线测量,以连续监测直径,计算 90° 时的 2 个直径值,精度很高。.

排队

直径测量 - 1 轴

直径 5 - 2000 微米

LDS单轴版本.

专为测量细金属丝直径而设计,精度高。.

其测量原理基于激光衍射,不受位置和振动的影响。.

所有部件均为静态,无移动部件。无需平均值计算。可用于在线测量,实现连续直径监测,单个直径值精度高。.


用于测量电线、电缆和管材的软件解决方案

CIM在线测量软件(CIM PROD版本)

CERSA-MCI 自主研发了用于管理其仪器的 PC 软件。CIM 提供实时测量显示,并可根据客户产品特性自动设置仪器参数。它还能将所有测量数据和事件记录到数据库中。

两个不同的版本用于线缆测量:

PROD版本专为在线应用而开发,其公差调整和触发阈值是专为生产环境设计的功能。LAB

版本离线应用而开发,该版本允许用户通过自定义字段对样品进行分类、保存记录、生成报告,以及将数据导出为 .csv 文件。

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“电线、电缆和管材测量”类别相关

离线

WIRE360——表面样品检测

直径 15 - 2000 微米

基于 SQMF 的强大功能,CERSA 开发了一种手动工作台,可以轻松地将样品紧紧固定(从 15µm 到 2mm),以便对样品表面进行 360° 的全面分析。

非常适合用于来料检验或样品分析。.

获取表面图像只需不到 1 分钟!

该专用软件提供了表征表面和检测潜在缺陷所需的所有工具。.

离线

直径和椭圆度测量

直径 5 - 2000 微米

LDS + 旋转附件 (WSR) + 标签打印机 + CIM 实验室.

适用于在实验室或进货检验中轻松测量细金属丝样品(低至 5µm)的全球解决方案。.

WSR 配件有助于测量 360° 的直径并计算椭圆度。.

配备标签打印机和 CIM Lab 软件后,它就成为一套完整的解决方案,可用于改进电线质量控制检测。.

离线

直径样品测量

直径 5 - 2000 微米

LDS + 脚踏板 + 标签打印机 + CIM 实验室.

用手握住样品,用脚踏板触发直径测量。.

简单且性价比高的解决方案,可在实验室或进货检验中轻松测量细金属丝样品(最大 2000µm)。.

配备标签打印机和 CIM Lab 软件后,它就成为一套完整的解决方案,可用于改进电线质量控制检测。.


用于测量电线、电缆和管材的软件解决方案

CIM在线测量软件(CIM PROD版本)

CERSA-MCI 自主研发了用于管理其仪器的 PC 软件。CIM 提供实时测量显示,并可根据客户产品特性自动设置仪器参数。它还能将所有测量数据和事件记录到数据库中。

两个不同的版本用于线缆测量:

PROD版本专为在线应用而开发,其公差调整和触发阈值是专为生产环境设计的功能。LAB

版本离线应用而开发,该版本允许用户通过自定义字段对样品进行分类、保存记录、生成报告,以及将数据导出为 .csv 文件。

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